A solução é o resultado da combinação do poderoso analisador de redes vetoriais R&S ZNA da Rohde & Schwarz com o sistema de probe de engenharia da FormFactor, líder do mercado. Como resultado, os fabricantes de semicondutores podem realizar uma caracterização confiável e reproduzível de dispositivos on-wafer na fase de desenvolvimento, durante a qualificação do produto e na produção.
Flexibilidade para ser usado em uma variedade de aplicações, desde embalagens prontas para prateleira até classificação de pacotes e manuseio de garrafas.
O recém-lançado ADISRA® InsightView fornece aos operadores de equipamentos de fabricação as medições OEE e insights analíticos avançados necessários para melhorar a eficiência.